600SMD離子污(wu)染(ran)測試儀是一個功能齊全(quan)的(de)微(wei)處理器控制儀器,采(cai)用(yong)非破壞式的(de)測試(shi)方法(fa),適合用(yong)于檢(jian)測印(yin)制線路板(ban)和相關部件(jian)的(de)離子(zi)含(han)量(liang)。根據測試(shi)液(ye)中電阻的(de)變化來測試(shi)離子(zi)的(de)含(han)量(liang)。利用(yong)加熱(re)測試(shi)液(ye)至大(da)約